【不良解析(SEM関連)】 不良解析手法の提案、解析、原因推定など対応いたします。 実装品、IC含めた様々な不良モードに対応可能。 まずはお気軽にお問い合わせ下さい。
参考例 発光解析などにて特定した箇所の除膜追跡(配線層の除膜→SEM観察) ※実際は低加速での観察にて各配線層、コンタクトのOPENの評価を行います。 【不良解析(TEM関連)】 不良解析手法の提案、解析、原因推定など対応いたします。 実装品、IC含めた様々な不良モードに対応可能。 まずはお気軽にお問い合わせ下さい。 参考例 平面TEM評価により絞り込んだ不良箇所での断面TEM解析実施
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